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[IQ測試] 芯片测试

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發表於 2016-6-30 21:04:37 | 顯示全部樓層 |閱讀模式
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芯片测试:有2k块芯片,已知好芯片比坏芯片多.请设计算法从其中找出一片  好芯片,说明你所用的比较次数上限.
; W' C0 }' L5 x) n* q  其中:好芯片和其它芯片比较时,能正确给出另一块芯片是好还是坏.
, H  V, t" Z0 g* J  坏芯片和其它芯片比较时,会随机的给出好或是坏。
5 r, e: m- N3 y1 ^# X) H
0 e4 y1 c' z) Z, i  C9 ]答案:
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